Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀完美結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)徹底解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量，是目前市場上功能最
作為最先將背向光散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號，又可以有效地提高了測量濃度上限，最高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，徹底解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能最強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。
NanoBrook產(chǎn)品系列
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項(xiàng)目 |
90Plus |
173 |
173Plus |
ZetaPlus |
ZetaPALS |
Omni |
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功
能 |
粒度測量 |
● |
● |
● |
○ |
○ |
● |
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分子量測量 |
● |
● |
● |
○ |
○ |
● |
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Zeta電位測量 |
○ |
○ |
○ |
● |
● |
● |
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技 術(shù) 參 數(shù) |
粒度范圍 |
0.3nm-6μm |
0.3nm-10μm |
0.3nm-10μm |
○ |
○ |
0.3nm-10μm |
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分子量范圍 |
342～2×107Dalton |
342～2×107Dalton |
342～2×107Dalton |
○ |
○ |
342～2×107Dalton |
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散射角 |
15°、90° |
173° |
15°、90°、173° |
○ |
○ |
15°、90°、173° |
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相關(guān)器 |
4×1011個(gè)線性通道 |
4×1011個(gè)線性通道 |
4×1011個(gè)線性通道 |
○ |
○ |
4×1011個(gè)線性通道 |
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電導(dǎo)率范圍 |
○ |
○ |
○ |
0-20S/m |
0-30S/m |
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電泳遷移率
范圍 |
○ |
○ |
○ |
10-10-10-7m2/V.s |
10-11-10-7m2/V.s |
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適用粒度范圍 |
○ |
○ |
○ |
1nm～100μm |
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電極 |
○ |
○ |
○ |
永久型電極 |
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系 統(tǒng) 參 數(shù) |
溫度控制 |
－5～110℃，±0.1℃ |
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激光源 |
35mW光泵半導(dǎo)體激光器 |
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檢測器 |
高靈敏雪崩型二極管（APD），超高量子效應(yīng)（>65%） |
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分析軟件 |
Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 |
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選
件 |
微流變 |
檢測弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息 |
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膜電位 |
固體表面膜電位測量 |
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在線測量 |
粒度及Zeta電位在線測量 |
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自動(dòng)滴定儀 |
可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖 |
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介電常數(shù)儀 |
直接測量溶劑的介電常數(shù)值 |
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粘度計(jì) |
用于測量溶劑及溶液的粘度 |
●代表“有” ○代表“無”
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀典型應(yīng)用
1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束
>
>http://img62.chem17.com/9/20140519/635360951897918190379.jpg'>;;
2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體
3.多糖、藥物制備
4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液
5.油包水、水包油體系
6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑
7.食品、化妝品配方
8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀應(yīng)用案例
>>http://img57.chem17.com/9/20140514/635356553454912222187.jpg'>;;
不同粒徑對Zeta電位等電點(diǎn)的影響 不同官能團(tuán)配比對等電點(diǎn)的影響 Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系
&nb, sp; 通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例，混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4～7之間明顯的變化，不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。（數(shù)據(jù)摘自JACS）
Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀技術(shù)參數(shù)
1.粒度測量范圍：0.3nm～10μm
2.Zeta電位測量適用粒度范圍：1nm～100μm
3.樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))
4.典型精度：1％
5.樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品
6.樣品體積：1～3ml
7.分子量測定范圍：342～2×107Dalton
8.電導(dǎo)率范圍：0～30S/m
9.電泳遷移率范圍：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s
10.電場強(qiáng)度：0 ～ 60 kV/m
11.電極：永久性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）
12.溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。
13.pH測量范圍：1-14
14.激光源：35mW光泵半導(dǎo)體激光器（可選5mW He-Ne激光器）
15.檢測器：高靈敏雪崩型二極管（APD）
16.相關(guān)器：4×522個(gè)物理通道，4×1011個(gè)線性通道，采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配
17.自動(dòng)趨勢分析：對時(shí)間、溫度及其他參數(shù)
18.散射角：15°、90°與173°
19.室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無冷凝
20.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg
21.電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
22.計(jì)算機(jī)（選件）：商用計(jì)算機(jī)，包括WindowTM軟件
23.自動(dòng)滴定儀（選件）：獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng)，可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
